二維寬角掃描相控陣天線平面近場測量研究.pdf

1、本文主要對二維寬角掃描(波束掃描角度偏離軸向40度以外)相控陣天線平面近場測試技術(shù)的可行性進(jìn)行研究,制定合理的測試方案,以對該類天線進(jìn)行快速和精確測試。
　　本文采用了先理論推導(dǎo)研究,再理論驗證,最后實驗驗證的研究方法。首先在對平面近場測量的原理進(jìn)行推導(dǎo)的基礎(chǔ)上,詳細(xì)的研究了二維寬角掃描相控陣天線平面近場測量的理論,得到通過天線的旋轉(zhuǎn)可以對二維寬角掃描相控陣進(jìn)行準(zhǔn)確測量的理論;然后用MATLAB建立圓極化偶極子模型,分別用傳統(tǒng)的平

2、面近場測試方法和本文提出的平面近場測試方法計算天線模型的近場分布,由近遠(yuǎn)場變換軟件和坐標(biāo)變換軟件得到天線的遠(yuǎn)場方向圖,并與理論計算的偶極子陣列的遠(yuǎn)場方向圖進(jìn)行對比分析;最后設(shè)計波束指向為0度、30度、60度的螺旋陣列天線,對其先后進(jìn)行遠(yuǎn)場測試、天線陣面與測試平面平行的常規(guī)平面近場測試和本文提出的將天線旋轉(zhuǎn)至主波束指向掃描面中心的平面近場測試,得到每種情況下天線的遠(yuǎn)場方向圖和增益,把遠(yuǎn)場測試的方向圖和增益看成理論結(jié)果,與兩種近場測量方法測