面向NoC多核并行測試的數(shù)據(jù)處理技術(shù)研究.pdf

1、伴隨著片上系統(tǒng)由總線架構(gòu)朝著片上網(wǎng)絡(luò)架構(gòu)方向發(fā)展,芯片復(fù)雜度的提高使得測試訪問變得困難,同時測試數(shù)據(jù)量及其測試時間也在增長,而且傳統(tǒng)的并行測試要求多個ATE通道的支持。為此,展開復(fù)用片上網(wǎng)絡(luò)架構(gòu)并行測試的測試數(shù)據(jù)處理技術(shù)研究,論文主要工作如下:
　　(1)調(diào)研了測試數(shù)據(jù)壓縮和測試的國內(nèi)外研究現(xiàn)狀,闡述了測試的必要性和測試過程,并對課題涉及到的相關(guān)測試基礎(chǔ)知識進(jìn)行了介紹。
　　(2)提出基于多掃描鏈的測試集合并算法,將測試向量

2、長的測試集作為目標(biāo)測試集,以掃描切片為對象進(jìn)行測試集合并。有效縮減測試數(shù)據(jù)量達(dá)到42.8％且高于同類方法,減少了測試時間,降低了測試移位功耗,降低了對ATE通道數(shù)量的需求且只需單個通道,簡化了測試集分離電路的硬件開銷。更重要的是該算法結(jié)合了復(fù)用片上網(wǎng)絡(luò)架構(gòu)的思想,提高了測試訪問性。
　　(3)由于測試集確定位的無規(guī)律分布,上文測試集合并算法得到的共享測試集數(shù)據(jù)量依然對ATE的工作頻率和通道帶寬提出了嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)。對此,進(jìn)一步提出了基