基于正交試驗方法的電磁串?dāng)_和腔體電磁屏蔽的優(yōu)化分析.pdf

1、隨著電子設(shè)備向高頻化，高速化、高密度化和高集成度化的方向發(fā)展，設(shè)備內(nèi)和設(shè)備間的電磁干擾也越來越嚴重，尤其是高密度和高集成度導(dǎo)致線路間的串?dāng)_十分突出。因此，研究如何減小線路間的電磁串?dāng)_和增強設(shè)備的電磁屏蔽具有十分重要的現(xiàn)實意義。
　　本文在研究多導(dǎo)體傳輸線串?dāng)_理論和屏蔽效能傳輸線法理論的基礎(chǔ)上，采用正交試驗方法，針對影響傳輸線間電磁串?dāng)_和開孔矩形腔體屏蔽效能的因素，進行了優(yōu)化分析和仿真驗證。論文主要從以下幾個方面展開:
　　首

2、先，本文研究了基于正交試驗方法的電磁串?dāng)_和電磁屏蔽的相關(guān)理論。其中包括正交試驗設(shè)計的基本理論、多導(dǎo)體傳輸線方程理論、時域有限差分法的計算原理和屏蔽效能的傳輸線法理論，這為后續(xù)的正交試驗設(shè)計提供了理論依據(jù)。
　　其次，本文針對多導(dǎo)體傳輸線的電磁串?dāng)_進行了優(yōu)化分析。在分析多導(dǎo)體傳輸線串?dāng)_理論的基礎(chǔ)上，提出了線間近端串?dāng)_和遠端串?dāng)_等兩個試驗指標，并給出了5個影響串?dāng)_的參數(shù)。對所選的5個參數(shù)進行正交試驗設(shè)計，確定了傳輸線電磁串?dāng)_影響因素的

3、顯著性，而后運用綜合平衡分析法確定了對近端串?dāng)_和遠端串?dāng)_進行單目標優(yōu)化時的最優(yōu)參數(shù)水平組合。對比優(yōu)化前后的試驗結(jié)果，傳輸線間的電磁串?dāng)_得到了明顯的改善。
　　然后，本文針對開孔矩形腔體的電磁屏蔽效能進行了優(yōu)化分析?；诘刃鬏斁€法理論，給出了影響單孔矩形腔體屏蔽效能的4個參數(shù)，并在腔體尺寸為300mm×100mm×300mm的條件下，確定了各參數(shù)取值范圍。為提高開孔矩形腔體的屏蔽效能，采用正交試驗方法設(shè)計不同因素水平的試驗，得到了