工業(yè)CT圖像的探測器串擾偽影研究.pdf

1、工業(yè)CT技術是一種非常重要的無損檢測手段。在人們對工業(yè)CT技術進行深入研究和廣泛使用的過程中，發(fā)現(xiàn)了許多有待解決和需進一步深入探討的問題。其中，對CT圖像中因探測器串擾而產生的偽影進行分析研究就是熱點之一。研究探測器串擾的大小和影響它的因素，以及串擾偽影對CT圖像的影響，從而找到消除或減輕串擾產生的圖像偽影的方法具有十分重要的工程應用價值。
　　本文主要的研究工作包括三個方面的內容。根據工業(yè)輻射探測器的工作機理和結構特點，把探測器

2、串擾分為一致的串擾、模塊邊緣串擾，并利用蒙特卡洛方法對這兩種串擾進行了模擬仿真；分析了這兩種串擾對CT圖像的影響；分析了常見的抑制串擾的三種方法，并模擬實現(xiàn)了其中的兩種方法。
　　利用EGSnrc軟件仿真得到了80keV~650keV的低能X射線能譜，為本文的仿真實驗提供了射線源輸入文件；根據300BXR低能X射線CT系統(tǒng)的探測器結構，編寫了探測器模塊程序，為本文的仿真實驗提供了探測器模塊的輸入文件。建立了上述兩種串擾的仿真模型，

3、并重建出相應的CT圖像。模擬仿真結果表明：探測器串擾不僅會降低CT圖像的空間分辨率，而且會導致CT圖像上出現(xiàn)大量的環(huán)狀或者是條狀偽影。
　　從入射X光子能量、準直器距探測器的距離、照射面積、被檢測物體的厚度等方面分別進行了仿真分析，得到了影響串擾的幾個重要因素和影響程度的關系，為探測器的設計和串擾的校正提供了依據。
　　最后介紹了抑制串擾的三種方法。第一，添加隔離層減小串擾；第二，測得串擾系數(shù)，并據此系數(shù)校正串擾；第三，從圖