針對(duì)PID的電池片防反射膜工藝改進(jìn)研究.pdf

1、隨著光伏發(fā)電在世界能源消耗中占有的席位越來(lái)越重要,發(fā)電系統(tǒng)也越來(lái)越龐大,一個(gè)發(fā)電系統(tǒng)中集成的光伏組件越來(lái)越多,盡管增加系統(tǒng)電壓和采用更少的逆變器能夠減少整個(gè)系統(tǒng)的成本,但這樣會(huì)使光伏組件暴露在高壓(High Voltage Stress,HVS)下,引起衰減。造成這種現(xiàn)象的部分原因是由于現(xiàn)有的測(cè)試和標(biāo)準(zhǔn)沒(méi)有充分評(píng)估在系統(tǒng)陣列中的高壓對(duì)組件耐久性的長(zhǎng)期影響。因此,研究電勢(shì)差引起的衰減(Potential Induced Degradati

2、on,PID)效應(yīng)不僅能夠防止系統(tǒng)內(nèi)的功率衰減,更可以減少組件的整體功率衰減,延長(zhǎng)組件的使用壽命。
　　本課題探討了晶硅太陽(yáng)能電池的現(xiàn)狀與發(fā)展,包括晶硅電池的基本原理以及影響效率的因素分析。針對(duì)電池片級(jí)別的PID進(jìn)行研究,從電池片的層面改善電勢(shì)差導(dǎo)致的功率衰減。通過(guò)分析影響效率和PID的因素,本課題將集中研究防反射膜工藝的改善。這樣可以在不影響組件制作工藝和系統(tǒng)架構(gòu)工藝的情況下,改善光伏系統(tǒng)的衰減趨勢(shì),延長(zhǎng)組件的使用壽命。