版權說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內容提供方,若內容存在侵權,請進行舉報或認領
文檔簡介
1、PCB(Printed Circuit Board)印制電路板是各類電子產品的重要組成部分,對于電氣系統(tǒng)元器件的連接具有非常重要的作用。為確保PCB長期在各種環(huán)境下能穩(wěn)定可靠工作,需對PCB進行高低溫循環(huán)沖擊試驗,循環(huán)壽命達到標準才可投入生產。在測試過程中,由于高低溫交替循環(huán)變化,PCB隨之膨脹和收縮。而PCB一般由幾種不同材料組成,它們的熱膨脹系數也都有所差異,溫度變化時不同的膨脹和收縮程度會導致PCB內部產生熱應力和應變。在大小和方
2、向都隨溫度變化的熱應力作用下,焊點因疲勞導致裂紋的產生和擴展進而斷裂,造成連接失效,試驗測得循環(huán)次數即焊點的疲勞壽命。
本文針對PCB焊點在熱循環(huán)沖擊下的疲勞失效,用有限元仿真軟件對PCB在熱循環(huán)作用下的熱力學行為進行了模擬,重點考察了模型的溫度分布和應力、應變情況;對于應力應變集中的焊點,本文還利用修正的Coffin-Manson疲勞壽命預測方程對其進行了疲勞壽命預測。結果表明,在各個循環(huán)中焊點的應力應變趨勢基本一致,而應力
3、應變的積累主要是在升降溫階段;等效應力最大值出現在降溫結束時,而等效應變最大值出現在升溫保溫過程結束時;焊錫中應力、應變最大的部位是邊角焊點根部,因此它也是整塊焊錫中最有可能發(fā)生失效的部位。
由于熱循環(huán)沖擊試驗中的溫度變化曲線對PCB的溫度分布及應力應變均有影響,因此本文對不同升降溫速率和保溫時間的情況進行了比較分析。通過有限元分析得出結論,焊點的應力隨著升降溫的速率增大而增大;而焊點的應變隨著升降溫或保溫時間的增長而增大。由
4、于疲勞壽命是根據應變計算,升降溫速率慢(即升降溫時間長)和保溫時間長的情況下焊點的應變范圍大,故循環(huán)次數最少,但由于這兩種情況的周期長,計算得出的循環(huán)時間卻是最長的。
通過PCB的結構改進可以改善模型內部的變形不協(xié)調,從而改善焊點在熱循環(huán)沖擊下的可靠性,因此本文提出了三種PCB結構改進模型,對改進前后的模型施加同樣的溫度載荷,進行有限元分析。計算結果表明,改進模型的應力應變較未處理模型減小,焊點的剪切塑性應變范圍也比未處理模型
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯系上傳者。文件的所有權益歸上傳用戶所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網頁內容里面會有圖紙預覽,若沒有圖紙預覽就沒有圖紙。
- 4. 未經權益所有人同意不得將文件中的內容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內容的表現方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內容負責。
- 6. 下載文件中如有侵權或不適當內容,請與我們聯系,我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- 熱循環(huán)條件下焊點失效行為的研究.pdf
- BGA混合焊點在熱循環(huán)負載下的可靠性研究.pdf
- 熱循環(huán)載荷下BGA復合焊點疲勞壽命的研究.pdf
- 多晶焊點在電遷移及熱循環(huán)下的微觀組織演變.pdf
- QFP焊點可靠性研究及其熱循環(huán)疲勞壽命預測.pdf
- 熱循環(huán)與振動環(huán)境下LGA焊點形態(tài)對焊點壽命影響研究.pdf
- 回流焊接得到的不同形狀焊點在熱循環(huán)載荷作用下的可靠性分析.pdf
- SMT低銀無鉛焊點在機械振動載荷下的失效研究.pdf
- 循環(huán)拉伸載荷下無鉛焊點損傷失效的研究.pdf
- 無鉛微焊點在熱-力耦合條件下失效分析.pdf
- 熱循環(huán)與老化條件下焊點晶體取向和微觀組織演變研究.pdf
- 無鉛微焊點熱循環(huán)可靠性及壽命預測研究.pdf
- 熱循環(huán)及隨機振動加載條件下QFN無鉛焊點的可靠性研究.pdf
- BGA焊點在不同加載方式下的力學行為研究.pdf
- BGA焊點在不同加載方式下的蠕變行為研究.pdf
- 基于焊點形態(tài)的光互連模塊熱循環(huán)與隨機振動加載條件下對準偏移研究.pdf
- 電子封裝焊料高溫力學性能實驗及焊點熱循環(huán)數值模擬研究.pdf
- Sn-Ag-Cu-Sn-Bi混裝焊點熱循環(huán)可靠性研究.pdf
- BGA焊點在不同加載方式下的納米力學行為研究.pdf
- 熱循環(huán)載荷下PBGA封裝體的應變特性研究.pdf
評論
0/150
提交評論