高速電光相位調(diào)制器的高頻特性測試研究.pdf

1、電光相位調(diào)制器是電光調(diào)制器中最簡單的一種，它相對(duì)于強(qiáng)度調(diào)制器具有結(jié)構(gòu)簡單、插入損耗低等優(yōu)點(diǎn)，因此電光相位調(diào)制器在光通信、微波光子等領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用。半波電壓是相位調(diào)制器主要的參數(shù)之一，本論文的主要內(nèi)容就是研究電光相位調(diào)制器的半波電壓的測試方法，由這些測試方法得到電光相位調(diào)制器的高頻特性。
　　本論文首先設(shè)計(jì)了光譜分析法測量電光相位調(diào)制器的半波電壓，光譜分析法包括光載波零點(diǎn)法和一階邊帶光載波比的方法。使用光載波零點(diǎn)法以及一階邊帶光載

2、波比的方法，測量了相位調(diào)制器的半波電壓。得到了高頻調(diào)制情況下，相位調(diào)制器半波電壓隨調(diào)制頻率的變化關(guān)系。在小信號(hào)近似情況下，得到相位調(diào)制器半波電壓與一階邊帶光載波強(qiáng)度比之間的解析關(guān)系。
　　設(shè)計(jì)了外差法測量電光相位調(diào)制器的半波電壓，外差法包括不同階邊帶強(qiáng)度比的方法和同階邊帶強(qiáng)度比的方法。利用相位調(diào)制器輸出光信號(hào)的邊帶與參考光拍頻信號(hào)的功率值，表征相位調(diào)制器輸出光信號(hào)對(duì)應(yīng)階邊帶的強(qiáng)度大小。使用不同階邊帶強(qiáng)度比的方法，測量得到相位調(diào)制器

3、半波電壓隨調(diào)制頻率的變化關(guān)系，實(shí)現(xiàn)了低頻調(diào)制情況下的測量，提高了測量的分辨率。提出同階邊帶強(qiáng)度比的方法，在實(shí)現(xiàn)低頻調(diào)制測量和提高分辨率的情況下，消除了光電探測器、微波放大器和微波電纜頻率響應(yīng)的影響，降低了高頻調(diào)制情況下對(duì)頻譜分析儀測量范圍和光電探測器帶寬的要求。光譜分析法和外差法測量結(jié)果基本一致，由此驗(yàn)證了外差法的準(zhǔn)確性。
　　設(shè)計(jì)了基于FM-IM(Frequency-modulation to intensity-modulat