基于FPGA的B類LXI矩陣開關(guān)的研究與實(shí)現(xiàn).pdf

1、在計(jì)算機(jī)技術(shù)飛速發(fā)展的同時(shí),以太網(wǎng)技術(shù)也開始應(yīng)用于更多的領(lǐng)域中。為適應(yīng)對速度和可靠性方面要求越來越高的分布式自動測試系統(tǒng),將以太網(wǎng)技術(shù)引入儀器領(lǐng)域,LXI設(shè)備應(yīng)運(yùn)而生。而開關(guān)系統(tǒng)作為自動測試系統(tǒng)的樞紐與核心,其性能的提高是自動測試系統(tǒng)整體性能提高的關(guān)鍵。LXI技術(shù)的引入使得開關(guān)系統(tǒng)在靈活性、可靠性、自動化程度、速度、控制距離等方面均有較大的提高,而其中的B類設(shè)備同步精度更高且無硬件觸發(fā)距離的限制,因此B類LXI開關(guān)設(shè)備的研發(fā),將為自動測

2、試系統(tǒng)的發(fā)展提供強(qiáng)大助力。
　　本文提出了一種基于S3C6410 ARM11處理器、嵌入式Linux操作和可編程邏輯器件FPGA的,硬件輔助實(shí)現(xiàn)LXI B類接口功能的4×8路矩陣開關(guān)模塊的方案。論文開篇介紹了測控總線的發(fā)展歷程及各種總線的優(yōu)缺點(diǎn),闡述了選題背景,然后介紹了 LXI B類系統(tǒng)的關(guān)鍵技術(shù),并對系統(tǒng)的總體方案進(jìn)行了初步論證,根據(jù) LXI關(guān)鍵技術(shù)的實(shí)現(xiàn)方法進(jìn)行了處理器、可編程器件、操作系統(tǒng)及矩陣開關(guān)等的選擇。接下來分別對系