模擬IC測試系統(tǒng)上位機界面及數(shù)字化儀的設(shè)計與實現(xiàn).pdf

1、集成電路(Integrated Circuit,IC)產(chǎn)業(yè)包括設(shè)計、制造及測試,其中IC測試在集成電路產(chǎn)業(yè)中起著決定性作用。IC測試系統(tǒng)作為IC測試的關(guān)鍵技術(shù),主要用于測量 IC的電氣參數(shù),以確保芯片良好。因此,研制高性能的 IC測試系統(tǒng)對整個集成電路產(chǎn)業(yè)的發(fā)展具有重要意義。
　　論文從 IC測試技術(shù)的發(fā)展入手,介紹了 IC測試系統(tǒng)的國內(nèi)外發(fā)展現(xiàn)狀?；谀K化的設(shè)計原則,研究了IC測試系統(tǒng)的軟件平臺和硬件架構(gòu)。在整個系統(tǒng)的硬件架構(gòu)

2、中,重點研究了數(shù)字化儀(DIG)功能模塊的設(shè)計與實現(xiàn),主要內(nèi)容如下:
　　1、介紹了IC測試技術(shù)的發(fā)展狀況和IC測試系統(tǒng)在國內(nèi)外的研究現(xiàn)狀,并闡述了課題來源與意義。
　　2、根據(jù)IC測試系統(tǒng)的設(shè)計指標,研究與設(shè)計了IC測試系統(tǒng)的軟件平臺和硬件架構(gòu),詳細闡述了硬件架構(gòu)各個功能模塊的設(shè)計原理和實現(xiàn)方案。
　　3、重點研究與實現(xiàn)了數(shù)字化儀(DIG)硬件電路設(shè)計。詳細闡述了硬件電路中差分接收電路、抗混疊濾波電路、可編程增益放大

3、器電路、模數(shù)轉(zhuǎn)換電路、FPGA配置電路等模塊,并完成各個模塊的調(diào)試工作,分析誤差源并實現(xiàn)校準。
　　4、完成數(shù)字化儀的驅(qū)動設(shè)計,包括測試函數(shù)驅(qū)動設(shè)計和硬件電路驅(qū)動設(shè)計,在VC++6.0中完成測試驅(qū)動函數(shù)的設(shè)計。在Xilinx FPGA平臺上實現(xiàn)硬件電路中邏輯代碼設(shè)計,主要包括FIFO、SDRAM、ADC和DAC控制器的邏輯驅(qū)動設(shè)計。
　　5、完成了IC測試系統(tǒng)的軟件平臺——圖形用戶界面(Graphic User Interf