基于標(biāo)記點(diǎn)拼接的誤差分析與控制研究.pdf

1、在三維掃描測(cè)量過程中，基于空間點(diǎn)距不變理論的標(biāo)記點(diǎn)拼接技術(shù)能夠快速獲得高精度拼合三維點(diǎn)云數(shù)據(jù)，已成為工業(yè)在線測(cè)量領(lǐng)域的熱點(diǎn)話題。但當(dāng)前基于標(biāo)記點(diǎn)多視拼接存在誤差較大、拼接過程不穩(wěn)定、計(jì)算速度慢等問題，本課題對(duì)三維掃描測(cè)量中基于標(biāo)記點(diǎn)拼接進(jìn)行了系統(tǒng)分析，找出基于標(biāo)記點(diǎn)多視拼接中誤差的主要來源并提出相應(yīng)誤差控制方法,在三維掃描測(cè)量領(lǐng)域具有重要理論意義和實(shí)際應(yīng)用價(jià)值。
　　首先，分析雙目視覺三維掃描測(cè)量中基于標(biāo)記點(diǎn)拼接流程和關(guān)鍵技術(shù)，分

2、析在拼接過程中引入誤差的主要環(huán)節(jié)為標(biāo)記點(diǎn)提取和標(biāo)記點(diǎn)三維重建。
　　其次，控制標(biāo)記點(diǎn)提取誤差時(shí)，在傳統(tǒng)Canny算子像素邊緣檢測(cè)基礎(chǔ)上，利用改進(jìn)Zernike矩方法實(shí)現(xiàn)較精確亞像素邊緣提取。對(duì)亞像素邊緣數(shù)據(jù)去除噪點(diǎn)進(jìn)行橢圓擬合，得到較準(zhǔn)確的標(biāo)記點(diǎn)坐標(biāo)。
　　然后，控制標(biāo)記點(diǎn)重建誤差時(shí)，發(fā)現(xiàn)影響標(biāo)記點(diǎn)重建精度的主要原因是雙目相機(jī)標(biāo)定得到的相機(jī)內(nèi)參數(shù)和相機(jī)外參數(shù)的準(zhǔn)確度。采用平面標(biāo)定靶對(duì)相機(jī)標(biāo)定，進(jìn)行畸變校正并用反投影殘差對(duì)雙目