2023年全國(guó)碩士研究生考試考研英語(yǔ)一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁(yè)
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1、隨著可逆電路研究的深入,出現(xiàn)了很多可逆電路的綜合方法,但這些設(shè)計(jì)方法普遍針對(duì)整個(gè)邏輯電路進(jìn)行綜合優(yōu)化設(shè)計(jì),對(duì)作為其基礎(chǔ)構(gòu)件的量子邏輯門(mén)的研究甚少,而基礎(chǔ)邏輯門(mén)的最優(yōu)化將直接影響著量子邏輯電路的整體優(yōu)化程度。如能對(duì)其進(jìn)行自動(dòng)進(jìn)化,獲得性能更好、邏輯功能更齊全和量子代價(jià)最小的門(mén)結(jié)構(gòu),將會(huì)對(duì)整個(gè)電路的優(yōu)化設(shè)計(jì)起到不可小覷的作用。
  電路進(jìn)化設(shè)計(jì)算法(特別是遺傳算法),以電路結(jié)構(gòu)和參數(shù)為進(jìn)化對(duì)象,無(wú)需依賴(lài)任何先驗(yàn)知識(shí)和規(guī)則即可探索廣闊的

2、設(shè)計(jì)空間,可以獲得新穎的或更好的設(shè)計(jì)結(jié)果,甚至實(shí)現(xiàn)復(fù)雜、大規(guī)模電路的全自動(dòng)設(shè)計(jì),并且遺傳算法具有并行化的特性,將其改造成并行遺傳算法,可以提高其電路的求解速度。
  本文主要研究可逆邏輯門(mén)的進(jìn)化設(shè)計(jì)方法及其CUDA實(shí)現(xiàn)。首先,在分析、比較的基礎(chǔ)上,選用易于物理實(shí)現(xiàn)的NOT、CNOT、Controlled-V、Controlled-V+基礎(chǔ)門(mén)構(gòu)建完備且通用的門(mén)庫(kù)。其次,對(duì)可逆邏輯門(mén)建立遺傳算法模型及設(shè)計(jì)方案,并用具體實(shí)例驗(yàn)證其方法的

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