電場調控低熔點金屬納米線的熔化再結晶行為.pdf

1、隨著納米科技的飛速發(fā)展，納電子器件以其高度集成化和存儲量大的優(yōu)點被廣泛應用在各個領域。然而，作為連接納電子器件功能元件的金屬納米線，在使用過程中因為所處環(huán)境溫度使其發(fā)生熔化，有效地對金屬納米線在再結晶的過程中調控其形貔和結構的變化，從而延長納電子器件的使用壽命，成為了人們關注的重心。本文以AAO模板限域的特點為前提，探究了電場對低熔點金屬納米線在熔化再結晶過程中的作用，為低熔點金屬納米線在納電子器件中的應用提供了理論基礎。主要的工作如下

2、:
　　首先，采用兩步陽極氧化的方法制備出孔徑均勻的AAO模板，使用電化學沉積的方法在AAO模板的孔道內制備出具有一維納米結構的低熔點金屬（鉍，鉛和銦）納米線陣列，運用相應的表征方法對低熔點金屬納米線陣列在實驗前后的形貌和結構進行表征分析;
　　其次，探究了在外加不同電壓條件下，低熔點金屬（鉍，鉛以及銦）納米線在高溫熔化冷卻再結晶過程中納米線形貌和結構的變化。在外加電場的條件下對金屬納米線進行長時間的熔化再結晶行為，從表征分

3、析結果得出:隨著直流電壓的升高，鉍、鉛和銦納米線都會發(fā)生由長變短，直到最后變?yōu)榧毿〉念w粒的現(xiàn)象;同時鉍納米線的(110)晶而與納米線生長方向之間的夾角由最初的60°逐漸增大到90°，鉛納米線的(200)晶面和銦納米線的(002)晶面與納米線生長方向之間的夾角均由最初的60°，逐漸減小到一個小的角度，直到彼此互相平行;
　　最后，分析了低熔點金屬納米線形貌和結構變化的原因:隨著電壓的升高，納米線所受到的電場力逐漸增大，在電場力的作用