基于虛擬儀器的電路板功能測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì).pdf

1、功能測(cè)試（Functional test，F(xiàn)CT）是對(duì)被測(cè)電路板提供模擬的運(yùn)行環(huán)境(激勵(lì)和負(fù)載)，使其工作于各種設(shè)計(jì)狀態(tài)，從而獲取到各個(gè)狀態(tài)的參數(shù)來(lái)驗(yàn)證被測(cè)電路板功能好壞的測(cè)試方法。一般專指實(shí)裝電路板（Printed Circuit Board Assembly，PCBA）的功能測(cè)試。
　　PCBA是指已經(jīng)裝配上各種電子器件的電路板，是電子產(chǎn)品的主要組成部分。對(duì)于一塊電路板上不同功能的電路，如果采用傳統(tǒng)的測(cè)量?jī)x器，則需要使用不同的

2、測(cè)量?jī)x器，這樣會(huì)增加測(cè)試系統(tǒng)復(fù)雜性。在分析國(guó)內(nèi)外PCBA測(cè)試方法基礎(chǔ)之上，本文設(shè)計(jì)了一種基于虛擬儀器開發(fā)軟件 LabVIEW、NI板卡、PXI總線的PCBA功能測(cè)試系統(tǒng)。
　　應(yīng)用高速的PXI總線進(jìn)行通訊的測(cè)試方案，可解決傳統(tǒng)的測(cè)試方法速度低的問題；應(yīng)用NI高速穩(wěn)定的板卡的測(cè)試方案，主要是針對(duì)傳統(tǒng)的測(cè)試方法可靠性、可維護(hù)性的問題；應(yīng)用LabVIEW開發(fā)軟件，主要是針對(duì)傳統(tǒng)的測(cè)試方法可持續(xù)開發(fā)性差、開發(fā)界面不友好的問題。
　　

3、硬件方面，在分析電路板功能測(cè)試系統(tǒng)的硬件模塊的基礎(chǔ)之上，以 PXI總線、NI數(shù)據(jù)采集板卡、矩陣開關(guān)板卡為核心，設(shè)計(jì)了一種基于PXI總線的功能測(cè)試系統(tǒng)，該系統(tǒng)中包括PXI總線、18槽PXI總線機(jī)箱、數(shù)據(jù)采集板卡、矩陣開關(guān)板卡、程控電源、測(cè)試治具等硬件設(shè)備，能夠滿足系統(tǒng)數(shù)據(jù)采集的需求。
　　軟件方面，采用模塊化編程思想，將系統(tǒng)分為五個(gè)功能模塊。通過(guò)對(duì)板卡底層驅(qū)動(dòng)的編程及參數(shù)調(diào)整，實(shí)現(xiàn)了對(duì)基本的電壓、電流、頻率等信號(hào)的測(cè)量要求；通過(guò)應(yīng)用