相控陣微波輻射計(jì)誤差分析與定標(biāo)研究.pdf

1、相控陣微波輻射計(jì)的天線是相控陣，能實(shí)現(xiàn)對(duì)觀測(cè)區(qū)域的“電掃描”效果，是一種較簡單的電掃描成像輻射計(jì)。相較于機(jī)械掃描成像的微波輻射計(jì)，電掃描成像的微波輻射計(jì)在掃描過程中不存在機(jī)械運(yùn)動(dòng)，同時(shí)具備高速掃描的能力。相較于綜合孔徑微波輻射計(jì)，相控陣微波輻射計(jì)通道數(shù)量較少，結(jié)構(gòu)簡單，成本低。然而相控陣中的誤差會(huì)降低其測(cè)量精度，因此，需要研究相控陣微波輻射計(jì)系統(tǒng)誤差及定標(biāo)。
　　本文在介紹相控陣微波輻射計(jì)系統(tǒng)模型及誤差模型的基礎(chǔ)上，分析了天線、接

2、收通道、AD量化等誤差等對(duì)測(cè)量精度的影響。其中天線誤差包括：天線子陣方向圖誤差、陣元失效誤差、交叉極化誤差、旁瓣誤差、饋電網(wǎng)絡(luò)誤差、天線互耦誤差等；接收通道誤差包括：接收通道幅度誤差、接收通道相位誤差、接收機(jī)噪聲誤差。
　　為了對(duì)誤差進(jìn)行仿真分析，本文設(shè)計(jì)了一套相控陣微波輻射計(jì)仿真程序，對(duì)4*4的相控陣微波輻射計(jì)系統(tǒng)引入不同大小及不同類型的誤差進(jìn)行仿真分析。通過仿真得到誤差與測(cè)量亮溫誤差的曲線。由仿真可知：天線子陣方向圖相位誤差、