多靶磁控共濺制備TiN-Ag納米復合膜和TiN-Ag-TiN多層膜的研究.pdf_第1頁
已閱讀1頁,還剩55頁未讀, 繼續(xù)免費閱讀

下載本文檔

版權說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內容提供方,若內容存在侵權,請進行舉報或認領

文檔簡介

1、本文利用磁控濺射技術在Si(100)基底、不銹鋼基底和鈦合金基底上合成TiN薄膜、TiN-Ag復合膜和TiN-Ag/TiN納米多層薄膜。利用表面輪廓儀、納米力學測試系統(tǒng),研究薄膜的表面硬度、彈性模量、應力和薄膜與基底的結合力;通過X射線衍射(XRD)和掃描電子顯微鏡(SEM)研究了薄膜的微觀結構;通過X射線光電子能譜(XPS)研究薄膜成分信息。探究實驗條件對薄膜的微觀結構、成分及力學性能的影響,找出最佳制備工藝。在研究TiN薄膜和TiN

2、-Ag復合膜的基礎上制備TiN-Ag/TiN納米多層薄膜,試圖在保持良好力學性能的同時具有較好的細胞相容性。希望其應用于人體種植牙、椎間融合器等生物醫(yī)學環(huán)境中。
  使用TiN化合物靶通過磁控共濺射方法在Si(100)基底和不銹鋼基底上制備TiN膜。探索了工作氣壓、基底溫度和基底負偏壓對薄膜晶相結構與力學性能的影響。XRD結果表明在工作氣壓為0.5 Pa下,適當的基底溫度并且較高的基底負偏壓時薄膜呈現(xiàn)TiN(111)擇優(yōu)取向,有利

3、于提高薄膜的硬度。當基底負偏壓為-130 V,基底溫度為300℃時,薄膜具有最高的硬度36.0 GPa和彈性模量426.9GPa,此時臨界載荷42.3 mN。
  利用多靶共濺沉積系統(tǒng)制備了TiN-Ag納米復合薄膜,主要分析了基底負偏壓,Ag的功率對薄膜結構、力學性能和水接觸角的影響。XRD結果表明當基底偏壓較低時出現(xiàn)了Ti2N(112)衍射峰,而Ag功率較低時主要呈現(xiàn)TiN(111)擇優(yōu)取向。當提高Ag的功率時或基底偏壓時,除了

4、TiN(111)衍射峰,還出現(xiàn)了Ag的多種衍射峰,包括Ag(111)、Ag(200)、Ag(220)等。從SEM斷面圖中可看到平行的柱狀結構,當偏壓較高時結構變得疏松。XPS結果表明復合膜中Ag元素將會以單質的形式存在,而Ti元素除了和N元素結合外,還會與膜中混有的O元素結合形成Ti-O鍵。通過對TiN薄膜和TiN-Ag復合膜的水接觸角的測試,TiN具有疏水性,但加入Ag元素的TiN-Ag復合膜的接觸角大幅減小,轉變?yōu)橛H水性材料。另外,

5、在Ag的功率為3W時薄膜硬度和彈性模量達分別到最高的33.5 GPa和388.5 GPa。
  利用多靶共濺沉積系統(tǒng)制備了TiN-Ag/TiN多層膜,XRD和SEM分析顯示TiN-Ag/TiN形成了多層結構,并出現(xiàn)了Ti4N3-x(101)和Ti2N(200)衍射峰,周期為30時的多層膜硬度和彈性模量達到最大值,分別為17.2 GPa和242.2 GPa。薄膜均表現(xiàn)為親水性,通過大鼠成骨細胞相容性實驗,結果表明鍍有TiN-Ag/T

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網頁內容里面會有圖紙預覽,若沒有圖紙預覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經權益所有人同意不得將文件中的內容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內容的表現(xiàn)方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內容負責。
  • 6. 下載文件中如有侵權或不適當內容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論