基于缺陷散射特性的相控陣超聲全聚焦成像方法研究.pdf

1、相控陣超聲通過設(shè)置不同的延時(shí)法則，可合成不同波束進(jìn)行缺陷成像檢測(cè)，具有掃查范圍大，檢測(cè)精度高等特點(diǎn)，是最具應(yīng)用前景的超聲無損檢測(cè)技術(shù)之一。隨著硬件技術(shù)的發(fā)展，相控陣超聲檢測(cè)系統(tǒng)得到了飛速發(fā)展，但相關(guān)信號(hào)后處理技術(shù)的發(fā)展較為緩慢，使得相控陣檢測(cè)信號(hào)未獲得有效地運(yùn)用。其中主要的原因是缺乏有效的相控陣傳感器合成波束及傳播模型，對(duì)相控陣超聲與缺陷的交互作用認(rèn)識(shí)不足。
　　針對(duì)以上問題，本文建立了相控陣超聲檢測(cè)的合成波束及其傳播模型，利用有

2、限元仿真對(duì)比研究了不同相控陣超聲波束與典型缺陷交互作用的散射場(chǎng)分布規(guī)律，并分析了缺陷散射特性對(duì)相控陣超聲成像檢測(cè)的影響，以及缺陷散射特性對(duì)相控陣超聲檢測(cè)工藝制定的意義。
　　在充分研究相控陣超聲與缺陷交互作用的基礎(chǔ)上，通過有限元仿真全陣列采集（FMC）過程，獲取相控陣超聲檢測(cè)缺陷的全矩陣數(shù)據(jù)，根據(jù)全聚焦成像（TFM）原理設(shè)計(jì)了相控陣超聲全聚焦成像軟件，對(duì)兩種典型缺陷進(jìn)行了 TFM成像，并分析了不同缺陷的TFM成像效果及缺陷散射特性