基于缺陷模式的內(nèi)存泄漏靜態(tài)檢測方法研究.pdf

1、隨著軟件規(guī)模的不斷擴(kuò)大以及復(fù)雜度不斷提升，以此帶來的軟件潛在缺陷檢測已成為學(xué)術(shù)界研究的熱點(diǎn)問題。對于內(nèi)存泄漏缺陷檢測，多采用靜態(tài)檢測方法來分析查找程序源代碼中潛在的缺陷。此類方法多存在著所耗時間過長、無法有效發(fā)現(xiàn)漏洞等問題。因此，研究高效率、高準(zhǔn)確性的內(nèi)存泄漏檢測方法是實(shí)際應(yīng)用所需要的，具有較強(qiáng)的研究價(jià)值和實(shí)際意義。
　　針對于內(nèi)存泄漏檢測，設(shè)計(jì)了一種基于缺陷模式的內(nèi)存泄漏靜態(tài)檢測方法。在分析現(xiàn)有的內(nèi)存泄漏缺陷模式的基礎(chǔ)上，總結(jié)了

2、內(nèi)存泄漏缺陷模式中存在的內(nèi)存操作行為（內(nèi)存分配、內(nèi)存釋放和內(nèi)存轉(zhuǎn)移），并設(shè)計(jì)了相應(yīng)的內(nèi)存操作行為狀態(tài)機(jī)模型，以此作為內(nèi)存泄漏靜態(tài)檢測的基礎(chǔ)。該方法利用基于正則表達(dá)式的模糊匹配算法來查找待檢測代碼中存在的內(nèi)存操作行為，進(jìn)而分析內(nèi)存操作行為狀態(tài)機(jī)的變化情況，來查找源代碼中存在的漏洞。同時，為了提高檢測的效率，解決函數(shù)調(diào)用點(diǎn)函數(shù)重復(fù)展開檢測的問題，提出了針對于內(nèi)存操作行為的函數(shù)摘要，并設(shè)計(jì)了相應(yīng)的函數(shù)摘要生成算法和函數(shù)摘要更新算法。