高壓誘導(dǎo)弱電弧放電沉積分層制造關(guān)鍵技術(shù)研究.pdf_第1頁(yè)
已閱讀1頁(yè),還剩98頁(yè)未讀, 繼續(xù)免費(fèi)閱讀

下載本文檔

版權(quán)說(shuō)明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡(jiǎn)介

1、微細(xì)電火花沉積加工是一種利用電極高損耗現(xiàn)象實(shí)現(xiàn)金屬材料沉積生長(zhǎng)的微尺度三維結(jié)構(gòu)加工方法。針對(duì)微細(xì)電火花沉積加工中放電能量小使得電極材料蝕除量少、放電間隙小而影響沉積質(zhì)量的不足,本文提出了一種新型電火花沉積加工方法,將高壓脈沖與低壓直流結(jié)合起來(lái)形成高壓誘導(dǎo)低壓弱電弧放電。高電壓在較大間隙擊穿極間介質(zhì),形成等離子體放電通道,誘導(dǎo)低壓大電流在該間隙放電,充分熔化電極,熔化的電極材料過(guò)渡到工件并與工件表面結(jié)合形成沉積層,通過(guò)二維平面的掃描加工,

2、按需實(shí)現(xiàn)金屬材料的沉積生長(zhǎng),逐漸在工件上形成微三維實(shí)體結(jié)構(gòu)。本文主要工作如下:
  (1)分析了高壓?jiǎn)为?dú)放電和高壓誘導(dǎo)低壓放電的過(guò)程,以單晶硅片為工件,紫銅(直徑500μm,200μm)為電極,進(jìn)行了兩種放電模式的放電實(shí)驗(yàn),結(jié)果表明在適當(dāng)條件下,高電壓成功誘導(dǎo)低壓大電流實(shí)現(xiàn)了在較大放電間隙下的放電加工。證明了該方法的可行性,并搭建了高壓誘導(dǎo)低壓放電實(shí)驗(yàn)平臺(tái)。
  (2)進(jìn)行了單獨(dú)高壓放電和高壓誘導(dǎo)低壓放電時(shí)電極和工件溫度場(chǎng)仿

3、真,確定了高壓誘導(dǎo)低壓放電的參數(shù)選取范圍,為下一步實(shí)驗(yàn)時(shí)電參數(shù)的選擇提供指導(dǎo)。
  (3)以單晶硅片為工件,紫銅為電極,進(jìn)行了系統(tǒng)的高壓誘導(dǎo)低壓放電沉積實(shí)驗(yàn),包括單點(diǎn)原位放電沉積、多點(diǎn)連續(xù)多層沉積實(shí)驗(yàn)等,總結(jié)了工藝規(guī)律。最后根據(jù)實(shí)驗(yàn)所得的最佳電參數(shù)進(jìn)行復(fù)雜軌跡的多層沉積實(shí)驗(yàn),結(jié)果表明沉積層均勻致密、形貌、質(zhì)量較微細(xì)電火花放電沉積有較大改善。
  (4)以不銹鋼為工件,紫銅為電極,進(jìn)行較大低壓電流下高壓誘導(dǎo)低壓放電的可行性研究

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無(wú)特殊說(shuō)明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁(yè)內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒(méi)有圖紙預(yù)覽就沒(méi)有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫(kù)僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對(duì)用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對(duì)用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請(qǐng)與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評(píng)論

0/150

提交評(píng)論