心血管置入式電子設(shè)備相關(guān)感染危險(xiǎn)因素回顧性分析.pdf_第1頁(yè)
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1、目的：自20世紀(jì)60年代以來，心血管置入式電子設(shè)備（CIED。the cardiovascular implantable electronic device）成為目前心血管內(nèi)科治療相關(guān)疾病的常規(guī)設(shè)備之一，CIED相關(guān)感染是（CIED-I，the cardiovascular implantable electronic device related infection）術(shù)后嚴(yán)重的并發(fā)癥。為了研究CIED-I相關(guān)危險(xiǎn)因素，總結(jié)有效的預(yù)防

2、措施，為今后臨床實(shí)踐提供借鑒。
　　方法與結(jié)果：通過回顧性調(diào)查2009年元月1日起6年內(nèi)在該醫(yī)院心內(nèi)科心導(dǎo)管室行CIED置入或更換的患者，經(jīng)嚴(yán)格按照納入排除標(biāo)準(zhǔn)共納入CIED相關(guān)574例手術(shù)人次，并統(tǒng)計(jì)了每例發(fā)生感染患者的基本特征、基礎(chǔ)疾病、術(shù)中及術(shù)后用藥、術(shù)后并發(fā)癥等信息，所得統(tǒng)計(jì)結(jié)果通過logistic回歸分析，逐步回歸納入研究變量，通過Wald檢驗(yàn)，0.05為檢驗(yàn)水準(zhǔn)，共篩選出3個(gè)暴露因素納入logistic回歸模型，并解釋

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