腦損傷體感誘發(fā)電位應用價值的法醫(yī)學研究.pdf

1、在臨床法醫(yī)學實踐中，經(jīng)常涉及腦損傷后遺功能障礙程度的客觀評定，腦損傷診斷的主要依據(jù)為臨床表現(xiàn)及MRI、CT等影像學檢查，但影像學檢查無法顯示腦損傷后腦神經(jīng)的功能狀態(tài)，對于適應性和代償性有很大個體差異的人體而言，有時雖然有形態(tài)學上的改變，卻可能無功能上的異常。由于被鑒定人特殊的心理作用，常常夸大或偽裝病情，使主觀性較大的臨床常規(guī)的檢查受到限制。目前，對腦損傷后腦功能狀態(tài)的評價尚無一種可靠的客觀檢測方法。因此，如何客觀的評定腦損傷后遺功能狀

2、態(tài)是臨床法醫(yī)學重要的研究課題之一。 近年來軀體感覺誘發(fā)電位(Somatosensory Evoked Potential，SEP)的發(fā)展為客觀的解決這一問題提供新的手段。SEP從電生理學角度反應腦神經(jīng)的功能狀態(tài)，國外自60年代以來就已開始應用SEP評價腦損傷后遺功能狀態(tài)的研究，國內(nèi)自90年代以來臨床方面才有一些報道，而法醫(yī)學對此方向的研究則更少。目前SEP在臨床上多應用于腦損傷后急性期對預后的預測及康復期對日常生活能力的評定，而

3、對于腦損傷后遺功能障礙狀態(tài)SEP的研究較少，且對于SEP的異常程度與腦損傷后遺功能障礙程度是否相關(guān)仍存在爭議。為此本文擬對21例腦損傷后肢體癱瘓患者及17例腦損傷后肢體無癱瘓的腦損傷后綜合征患者進行SEP檢查，并以20例正常人作為對照，尋求客觀穩(wěn)定的觀察指標，進一步探討腦損傷后遺功能狀態(tài)與SEP的改變的關(guān)系，以期為臨床法醫(yī)學鑒定提供客觀依據(jù)。 實驗方法： 一、實驗對象： 試驗組1：腦損傷后肢體癱瘓患者21例，經(jīng)C

4、T或MRI診斷有腦實質(zhì)損傷或受壓，單側(cè)上肢癱瘓，有不同程度的感覺障礙。試驗組2：腦損傷后綜合癥患者17例，經(jīng)CT或MRI診斷有腦實質(zhì)損傷或受壓，四肢肌力均為Ⅴ級。正常對照組：健康志愿者20例。 二、實驗方法： (一)儀器、參數(shù)設置及檢查方法： 采用NDI 200+型神經(jīng)電診斷儀。室內(nèi)配有空調(diào)，室溫22℃左右，光線稍暗。受試者取仰臥位、放松。上肢正中神經(jīng)SEP的電極導聯(lián)方式：①Cc'-FPz②Cv7-FPz。刺激電

5、極為盤狀氯化銀電極，皮膚電阻小于5kΩ。刺激脈沖波寬0.1 ms，頻率為5 Hz，帶通10～2000 Hz，分析時間50 ms，刺激強度以能引起大魚際肌收縮為準。重復記錄至少2次。 (二)主要觀察指標： N13、P15、N20、P25、N35、P45各波波形，各波峰潛伏期(peak latency，PL)及側(cè)間差值(Interside latency difference，ILD)；N13-N20峰間潛伏期(Interp

6、eak latency，IPL)及側(cè)間差值(ILD)。異常判定的標準：(1)N13、P15、N20、P25、N35、P45任一波消失或分化差； (2)N13、P15、N20、P25、N35、P45各波的PL或N13-N20的IPL(中樞傳導時間)超過正常參考值2.5倍標準差。凡具備上述任意一項，即可判斷為異常。 實驗結(jié)果： 1、20例正常對照組N13、P15、N20、P25、N35各波均正常引出，其中3例(72.73％)

7、P45波未引出。 2、21例腦外傷后癱瘓組僅3例(14.29％)SEP正常，SEP異常主要表現(xiàn)為各波PL、IPL的延長或波形異常。腦損傷后遺障礙程度越重，SEP異常程度也越重。不同肌力SEP異常的表現(xiàn)也不同，肌力分級與P15、N20、P25的PL，N13-20的IPL均有明顯負相關(guān)性(P<0.001)。上肢肌力Ⅳ級、Ⅲ級、Ⅱ～Ⅰ級的患者中P15的異常率分別為45.45％、83.33％、100％。P15 PL在未癱瘓側(cè)也存在異常。

8、 3、17例腦外傷后綜合癥患者SEP異常者僅6例(35.29％)，主要表現(xiàn)為P15或N20 PL延長(11.76％)。 4、腦損傷后癱瘓患者、腦損傷后綜合癥患者及正常對照組間SEP的異常均存在統(tǒng)計學意義上的差異；腦損傷后不同肌力分級間SEP異常率的差異有顯著的統(tǒng)計學意義(x2=11.939 P<0.05)。腦損傷后遺功能障礙程度越重，其SEP的改變越明顯。三組受試對象N35 PL均無統(tǒng)計學意義上的差異(P>0.05)。

9、 結(jié)論： 1、SEP中，N13、P15、N20、P25及IPL N13-N20均可做為評定腦損傷后遺留功能障礙程度的客觀穩(wěn)定的觀察指標，其中IPL N13-N20可排除由身高和肢長引起的個體差異，多指標同時觀察可提高其陽性率。 2、P15是腦功能的評定是一項敏感的、客觀的電生理學指標。 3、腦損傷后遺功能障礙程度與SEP異常程度正相關(guān)，即病情越重，SEP異常程度越重。 4、SEP作為一種客觀的無創(chuàng)傷