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文檔簡介
1、光電離是原子與分子物理中一種最基本的原子過程。在等離子體不透明度的研究和等離子體診斷中,中性原子和離子的絕對光電離截面的數(shù)據(jù)是必不可少的。同時,光電離的相關(guān)研究在天體物理及理解電子關(guān)聯(lián)效應(yīng)等方面有突出的貢獻(xiàn)。另外,光電離過程往往伴隨著內(nèi)殼層洞態(tài)的產(chǎn)生,對內(nèi)殼層洞態(tài)的退激發(fā)過程及其末電離態(tài)分布的研究,不僅能獲得相關(guān)原子(或離子)的內(nèi)殼層電子的結(jié)構(gòu)信息及退激發(fā)過程的動力學(xué)規(guī)律,而且能很好地解釋相關(guān)實驗結(jié)果和各種等離子體過程中的離子態(tài)布居。本
2、研究分為六個部分:
第一章主要介紹了原子物理學(xué)與量子力學(xué)的發(fā)展、光電離過程的研究進(jìn)展、洞原子(或離子)概述及本文的研究內(nèi)容及基本框架;
第二章主要介紹了本文用到的多組態(tài)Dirac-Fock(MCDF)方法和計算光電離截面、Auger 躍遷幾率等的公式;
第三章主要利用最新發(fā)展的RERR06 程序模擬了Ne 原子的1s 光電子譜,用XAUGER 程序研究了Ne 原子的1s 光電離末離、伴隨態(tài)及Ne
3、原子1s-1 3p 激發(fā)態(tài)的Auger 衰變特性。我們發(fā)現(xiàn),當(dāng)初洞態(tài)存在旁觀電子時,旁觀Auger 躍遷是主要的衰變機(jī)制;
第四章利用輻射-單俄歇級聯(lián)退激發(fā)模型研究了L 殼層雙洞態(tài)氬離子的退激發(fā)過程及其末電離態(tài)分布,我們得到了初洞態(tài)越深,退激發(fā)過程越復(fù)雜,高離化態(tài)離子分布越高,低離化態(tài)離子分布越低的結(jié)論。同時,結(jié)合在蘭州近代物理研究所的反沖離子動量譜儀上測得的30 keV的He 2+與Ar 碰撞過程中反沖離子的縱向動量,研
4、究了低能He 2+與Ar 碰撞過程中產(chǎn)生的各種激發(fā)態(tài)Ar 離子的Auger 衰變特性及其末電離態(tài)分布;
第五章通過系統(tǒng)考慮量子電動力學(xué)(QED)效應(yīng)、Breit 相互作用和弛豫效應(yīng),詳細(xì)研究了類鈧金離子和類錳金離子的3d 電子激發(fā)到n=4,5 各子殼層所形成的激發(fā)態(tài)的能級結(jié)構(gòu)、共振激發(fā)能及這些激發(fā)態(tài)之間能夠發(fā)生的所有躍遷的振子強度。研究發(fā)現(xiàn),隨著nl的增大,能級間距越來越小,能級間的簡并越來越強,并且長度和速度規(guī)范下的振子
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