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文檔簡介
1、JTAG接口定義JTAG（Joint Test Action Group ,聯(lián)合測試行動小組）是一種國際標(biāo)準(zhǔn)測試協(xié)議，主 要用于芯片內(nèi)部測試及對系統(tǒng)進行仿真、調(diào)試，JTAG技術(shù)是一種嵌入式調(diào)試技術(shù)，它在芯 片內(nèi)部封裝了專門的測試電路TAP （ Test Access Port，測試訪問口），通過專用的J TAG測試工具對內(nèi)部節(jié)點進行測試。目前大多數(shù)比較復(fù)雜的器件都支持JTAG協(xié)議，如ARM、DSP、FPGA器件等。標(biāo)準(zhǔn)的 JTAG接口是
2、4線：TMS、TCK、TDI、TDO，分別為測試模式選擇、測試時鐘、測試 數(shù)據(jù)輸入和測試數(shù)據(jù)輸出。JTAG測試允許多個器件通過JTAG接口串聯(lián)在一起，形成一個JTAG鏈，能實現(xiàn)對各個器 件分別測試。JTAG接口還常用于實現(xiàn)ISP （ In-System Programmable在系統(tǒng)編程）功 能，如對FLASH器件進行編程等。通過JTAG接口，可對芯片內(nèi)部的所有部件進行訪問，因而是開發(fā)調(diào)試嵌入式系統(tǒng)的一 種簡潔高效的手段。目前JTAG接
3、口的連接有兩種標(biāo)準(zhǔn)，即14針接口和20針接口，其定 義分別如下所示。14針JTAG接口定義：14針JTAG接口定義引腳名稱描述1、 13 VCC接電源2、 4、6、8、10、14 GND 接地3 nTRST 測試系統(tǒng)復(fù)位信號5 TDI 測試數(shù)據(jù)串行輸入7 TMS 測試模式選擇9 TCK 測試時鐘11 TDO 測試數(shù)據(jù)串行輸出12 NC 未連接20針JTAG接口定義引腳名稱描述VTref 目標(biāo)板參考電壓，接電源接電源 2 VCC3 nT
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