量子阱紅外探測器性能參數(shù)測試技術研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、量子阱紅外探測器（QWIP，Quantum Well Infrared Photo-detector）在響應速度、均勻性、抗輻照、多色集成和加工成本等方面的明顯優(yōu)勢，成為近年來紅外探測技術領域關注的熱點，其測試技術也得到了飛速發(fā)展。 本文主要研究了QWIP性能參數(shù)測試技術及測量方法。首先簡要地介紹了量子阱材料的發(fā)展歷史和基本工作原理，分析了表征QWIP的性能參數(shù)。在此基礎上提出了測試系統(tǒng)設計方案，運用基于相關檢測技術原理使用鎖相

2、放大器測量了黑體電壓響應率和光譜響應率，提高了從背景噪聲中提取有用信號的能力。并提出了光譜響應率測量方案的改進方法，前置放大電路的設計思想以及電路的低噪聲處理方法。 QWIP參數(shù)測量程序采用LabVIEW編寫。程序由初始化、黑體電壓響應率、光譜響應率以及退出四個模塊組成。在程序設計中，實現(xiàn)了對鎖相放大器（Lock in Amplifier）SR830的控制，使得測試過程更加簡潔、便利。測試系統(tǒng)需要測量的參數(shù)較多，而且某一測試結(jié)

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