正電子壽命譜儀的實(shí)驗(yàn)標(biāo)定及鐵基非晶的正電子湮沒效應(yīng).pdf

1、正電子湮沒壽命譜技術(shù)已經(jīng)成為研究材料缺陷的非常有效的手段，它既能檢測(cè)出缺陷大小，又能檢測(cè)出缺陷的種類，還能檢測(cè)出每種缺陷在材料中所占的比例。無論是對(duì)缺陷尺寸還是缺陷濃度的探測(cè)都明顯優(yōu)于其它傳統(tǒng)的檢測(cè)手段。
　　我們實(shí)驗(yàn)室的正電子壽命譜儀是由兩臺(tái)不能正常工作的正電子壽命譜儀重新組裝成的一臺(tái)，用60Co測(cè)得的分辨曲線半高寬大于400ps，而且還很不對(duì)稱，這種狀態(tài)是根本沒法使用的。本論文著重進(jìn)行了回復(fù)和優(yōu)化正電子壽命譜儀，使其能夠正常工

2、作。本文重新挑選壽命譜儀的插件，并對(duì)其一一進(jìn)行檢測(cè)，重新組裝。對(duì)組裝后的正電子壽命譜儀進(jìn)行了能量標(biāo)定、卡能窗、時(shí)間刻度、時(shí)間分辨率測(cè)量和譜儀的穩(wěn)定性測(cè)量。能量標(biāo)定的結(jié)果為起始道上限EUmV=0.7082keV/mV，下限ELmV=1.0685keV/mV;終止道上限EUmV=0.7197keV/mV，下限ELmV=1.1042keV/mV。時(shí)間刻度為30.951ps/ch?？艽暗慕Y(jié)果為起始道:496～1497mV，終止道:260～42

3、0mV。在該能窗(22Na)下測(cè)得的60Co時(shí)間分辨率為277ps。而且時(shí)間分辨曲線極其對(duì)稱。和最初狀態(tài)相比，性能大為改善。恒溫下長(zhǎng)時(shí)間測(cè)量發(fā)現(xiàn)48小時(shí)內(nèi)，峰位移動(dòng)不到0.5ch，穩(wěn)定后改變溫度，發(fā)現(xiàn)每改變1℃峰位移動(dòng)量為6.82ps/ch，不到10ps/ch，完全滿足實(shí)驗(yàn)要求。
　　本文還利用已經(jīng)調(diào)試好的正電子壽命譜儀對(duì)四種鐵基非晶合金Fe78B13Si9、Fe73.5Cu1Nb3Si13.5B9、Fe43Co43Hf7B6Cu

4、1、Fe44.5Co44.5Zr7B4進(jìn)行了壽命譜測(cè)量，結(jié)果顯示第一壽命值的大小都在107ps和170ps之間，其中Fe78B13Si9的第一壽命值為156.54ps，和國際上最新報(bào)道的Fe78B13Si9的第一壽命值154ps，相差2.54ps，而且第一壽命成分強(qiáng)度接近90％。這只能用非晶的無規(guī)密堆模型來解釋。其中選擇了Fe78B13Si9、Fe43Co43Hf7B6Cu1進(jìn)行200℃、300℃、400℃、500℃退火處理（氮?dú)獗Ｗo(hù)）