X-射線熒光法進行氧化鋁生產(chǎn)過程中物料分析的實驗研究.pdf

1、本文闡述了X射線熒光光譜分析方法的基本原理，介紹了粉末壓片和熔融制樣兩種制樣方法的優(yōu)缺點，討論了標準樣品以及測定條件的選擇、制樣量、制樣時間的選擇等條件對分析結(jié)果的影響，指出樣品制備是影響熒光分析結(jié)果準確度的關(guān)鍵。選定好測定條件后，分別用兩種制樣方法對氧化鋁生產(chǎn)過程中主要的固體物料熟料和鋁土礦進行測定研究分析，并與化學(xué)分析法進行了比較。通過大量的實驗數(shù)據(jù)得出如下結(jié)論：對熟料樣品，采用直接壓片法制樣，用X射線熒光法測定，與化學(xué)分析法相比，

2、除Ns(以Na20表示的Na2S04含量，文中同)由于受輕元素激發(fā)的影響，誤差滿足率稍低外，其他成分Si02、Fe203、A1203、CaO、Na20、K20、’1"i02等結(jié)果差值滿足誤差平均達90％，在分析速度占主導(dǎo)的情況下，基本可以滿足生產(chǎn)要求；用熔融法制樣分析，同樣由于受輕元素激發(fā)和樣品高溫加熱揮發(fā)的影響，A1203、‘Na20和Ys的結(jié)果對應(yīng)誤差滿足率稍低，而其他結(jié)果差值滿足誤差率平均達98％，完全可以代替化學(xué)分析；對中州鋁土