高速M(fèi)CM基板研究與設(shè)計(jì).pdf

1、多芯片組件(MCM)的布線密度較PCB高，工藝較系統(tǒng)芯片(SOC)簡(jiǎn)單，是有發(fā)展前途的封裝方式之一。隨著尺寸的減小、規(guī)模的擴(kuò)大和頻率的提高，互連傳輸線效應(yīng)成為限制MCM性能的“瓶頸”。傳統(tǒng)集總的參數(shù)提取方法逐步失去準(zhǔn)確性，因此對(duì)互連及封裝結(jié)構(gòu)進(jìn)行電磁建模和信號(hào)完整性分析在高速M(fèi)CM設(shè)計(jì)中具有重要意義。 本文以高速M(fèi)CM基板設(shè)計(jì)及其封裝為研究對(duì)象，開(kāi)展了其電磁建模、參數(shù)提取及信號(hào)完整性分析。 1．在闡述傳輸線原理的基礎(chǔ)上，

2、詳細(xì)分析了高速M(fèi)CM設(shè)計(jì)中的信號(hào)完整性問(wèn)題，包括反射、串?dāng)_、同步開(kāi)關(guān)噪聲等。 2．具體闡述對(duì)MCM基板中常用的綁定線、傳輸線和過(guò)孔等組件進(jìn)行電磁建模與高頻仿真，通過(guò)比較參數(shù)化的仿真結(jié)果(回波損耗、插入損耗及串?dāng)_等散射參數(shù))，優(yōu)化MCM的布線設(shè)計(jì)。 3．利用HSPICE軟件分析MCM信號(hào)通道對(duì)高速信號(hào)的瞬態(tài)影響。主要討論：1)阻抗不匹配造成信號(hào)反射；2)由寄生電感而引起的電壓跳動(dòng)，即同步開(kāi)關(guān)噪聲：3)鄰近導(dǎo)線間信號(hào)耦合效應(yīng)