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文檔簡(jiǎn)介
1、國(guó)際工程經(jīng)驗(yàn)和相關(guān)研究表明腐蝕失效問(wèn)題對(duì)核電站運(yùn)行經(jīng)濟(jì)性和安全性有重要影響,是核電站材料方面的重大挑戰(zhàn)。特別是核島關(guān)鍵材料在高溫高壓水環(huán)境中以應(yīng)力腐蝕破裂(stress corrosion cracking,SCC)為主的環(huán)境促進(jìn)破裂已成為影響整個(gè)系統(tǒng)運(yùn)行安全性和可靠性的主要問(wèn)題之一,對(duì)這些材料在相關(guān)環(huán)境中的破裂性能進(jìn)行高質(zhì)量的測(cè)試評(píng)價(jià)至為重要。在此背景下,本工作開展了對(duì)模擬法國(guó)設(shè)計(jì)的二代加壓水堆(pressurized water r
2、eactor, PWR)核電站反應(yīng)堆壓力容器接管-安全端異種金屬焊接件16MND5/309L/308L/Z2CND18-12N的研究,基于國(guó)際上已積累的相關(guān)工程經(jīng)驗(yàn)和實(shí)驗(yàn)室研究數(shù)據(jù),進(jìn)行了如下的實(shí)驗(yàn)工作,并得出了相應(yīng)的結(jié)論:
?。?)測(cè)試研究了該焊接件的化學(xué)成分分布。結(jié)果表明,焊接件各組成部分的基體化學(xué)成分符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求。16MND5/309L界面附近的成分存在顯著變化,F(xiàn)e、Cr、Ni的變化較劇烈。從16MND5到309L
3、,F(xiàn)e的含量迅速下降,Cr和Ni的含量迅速升高。從308L到Z2CND18-12N,F(xiàn)e和Cr的含量略微下降,Ni的含量略微升高。
(2)觀察研究了該焊接件的金相組織。結(jié)果表明母材16MND5和Z2CND18-12N的組織形態(tài)分別為上貝氏體和等軸晶粒的奧氏體,焊縫309L和308L的組織形態(tài)為枝晶狀的奧氏體,均勻分布有δ-鐵素體,晶界分布有碳化物。16MND5/309L界面區(qū)域存在硬度很高的馬氏體薄層。
(3)測(cè)試研
4、究了焊接件的顯微硬度分布。結(jié)果表明硬度存在不均勻性,平均硬度:焊縫309L/308L>母材16MND5>母材 Z2CND18-12N,16MND5/309L界面區(qū)域的局部硬度最高。
?。?)用慢應(yīng)變速率試驗(yàn)(SSRT)和電極電位監(jiān)控法,測(cè)試研究了覆蓋16MND5/309L/308L/Z2CND18-12N全部典型區(qū)域的二接頭試樣在模擬PWR一回路運(yùn)行狀態(tài)的290?C高溫水環(huán)境中的SCC行為隨電極電位的變化關(guān)系,以探索水化學(xué)關(guān)鍵參
5、數(shù)溶解氧的影響。結(jié)果表明,電位在-720mV~+100mV區(qū)間內(nèi)對(duì)SCC的影響較小,試樣總是以韌性斷裂模式在308L焊縫區(qū)斷裂;當(dāng)電位上升至+200mV時(shí)(代表高氧含量),試樣發(fā)生顯著的SCC脆斷,斷裂集中在16MND5/309L界面區(qū),即16MND5/309L界面區(qū)是該焊接件抗SCC最薄弱的部位。SCC主裂紋萌生于緊鄰界面的309L完全奧氏體薄層內(nèi),以沿晶方式擴(kuò)展,一些SCC次裂紋萌生于緊鄰界面
(5)測(cè)試研究了僅覆蓋16M
6、ND5/309L/308L部分的單接頭試樣在上述高溫水環(huán)境中的SCC行為。電極電位對(duì)該試樣的影響與上述二接頭試樣相似。當(dāng)電極電位處于-720mV~+100mV范圍內(nèi),試樣總是以韌性斷裂模式在308L焊縫區(qū)斷裂;當(dāng)電位上升至+200mV時(shí),試樣發(fā)生顯著的SCC脆斷,斷裂集中在16MND5/309L界面區(qū)。破裂方式也是SCC主裂紋萌生于緊鄰界面的309L完全奧氏體薄層內(nèi),以沿晶方式擴(kuò)展,一些 SCC次裂紋萌生于緊鄰界面的16MND5熱影響區(qū)
7、,以穿晶方式擴(kuò)展。
?。?)測(cè)試研究了該焊接件在模擬PWR一回路停堆狀態(tài)的室溫水環(huán)境中的SCC行為。結(jié)果表明,在應(yīng)變速率為5×10-7s-1的SSRT中,16MND5/309L/308L/Z2CND18-12N二接頭試樣均以宏觀上純力學(xué)韌性斷裂模式失效,試樣失效在16MND5低合金鋼部分,但在16MND5/309L界面處發(fā)現(xiàn)有SCC裂紋;覆蓋16MND5/309L/308L部分的單接頭試樣以宏觀上純力學(xué)韌性斷裂模式失效,試樣失效
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