電位器碳膜片智能檢測(cè)儀的研究與設(shè)計(jì).pdf

1、電位器碳膜片智能檢測(cè)儀是針對(duì)碳膜片的精度檢測(cè)而研制設(shè)計(jì)的。目前,電位器生產(chǎn)企業(yè)多采用人工檢測(cè),其特點(diǎn)是失誤率大,產(chǎn)品一致性低,很難滿足應(yīng)用企業(yè)對(duì)電位器精度上的一致性要求。另外招工難、高待遇要求又與生產(chǎn)效率低形成嚴(yán)重的反差。本文介紹的電位器碳膜片智能檢測(cè)儀采用了數(shù)字化檢測(cè)、微機(jī)控制、氣動(dòng)和觸摸屏可視化操作等先進(jìn)技術(shù),使生產(chǎn)效率大幅提高,同時(shí),可按要求設(shè)置精度等級(jí),使產(chǎn)品的一致性、合格率與采購(gòu)方的要求相一致。
　　 本文介紹的測(cè)試裝

2、置兼顧了測(cè)試參數(shù)預(yù)置、數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、結(jié)果顯示,能夠?qū)μ寄て逭暹M(jìn)行一次性自動(dòng)化檢測(cè),一次檢測(cè)達(dá)600個(gè)雙聯(lián)碳膜片(1200個(gè)單聯(lián)碳膜片),精度規(guī)格在1％-20%范圍內(nèi)可預(yù)置,可視化操作,與傳統(tǒng)測(cè)試儀器相比,具有簡(jiǎn)便、高效等特點(diǎn)。
　　 本設(shè)計(jì)在分析了該測(cè)試裝置的功能、原理的基礎(chǔ)上,提出了該測(cè)試裝置以AT89C55、存儲(chǔ)器AT24C02、串并轉(zhuǎn)換芯片SC16C550B構(gòu)成上位機(jī),AT89C52單片機(jī)、ADS7818數(shù)模轉(zhuǎn)換芯片等構(gòu)成