金屬膜片表面缺陷檢測(cè).pdf

1、隨著計(jì)算機(jī)視覺和圖像處理技術(shù)的飛速發(fā)展，其應(yīng)用范圍也日益廣泛，并已在印刷、航空、農(nóng)業(yè)以及醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域有大量應(yīng)用。為了檢測(cè)金屬膜片表面由于生產(chǎn)或人為的劃痕缺陷并對(duì)其長度、寬度進(jìn)行量化，本文以不銹鋼質(zhì)的圓片、小圓環(huán)和大圓環(huán)作為研究對(duì)象，通過對(duì)大量的膜片圖像進(jìn)行分析與研究，進(jìn)而提出一種基于圖像處理技術(shù)的金屬膜片表面缺陷的提取和量化的處理方案。
　　首先，在取像過程中，膜片的邊緣極易產(chǎn)生光圈，此為缺陷提取時(shí)的最大干擾因素；在進(jìn)行取像時(shí)，取像

2、設(shè)備表層出現(xiàn)的散雜塵埃以及細(xì)微劃傷，此為第二個(gè)重要干擾因素。所用到的解決方案即是先求出膜片區(qū)域，然后把非膜片區(qū)域全部賦值為背景色。本文針對(duì)此提出一種新的基于像素掃描的圓區(qū)域檢測(cè)量化算法，此算法具有速度快、精度高的特點(diǎn)。其次，對(duì)獲取到的膜片區(qū)域圖像進(jìn)行預(yù)處理，該過程包括圖像的銳化、去噪、歸一化以及動(dòng)態(tài)閾值分割，經(jīng)過此步驟已可以大致分割出缺陷圖像。然后，通過使用基于數(shù)學(xué)形態(tài)學(xué)的差影法提取出圖像中目標(biāo)的輪廓。最后，對(duì)所得輪廓的長度、寬度進(jìn)行量