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文檔簡介
1、隨著CMOS工藝和集成電路設(shè)計的發(fā)展,集成電路的尺寸不斷縮小,PVT(Process,Voltage and Temperature)波動對集成電路的影響也越來越嚴(yán)重。而集成電路進入深亞微米后,晶體管的漏電日益嚴(yán)重,加上廣泛使用的便攜式電子設(shè)備絕大部分時間處于待機狀態(tài)。因此,研究抗PVT波動的靜態(tài)低功耗技術(shù),具有很強的現(xiàn)實意義。PVT波動主要來源于集成電路的制造流程和電路運行的實際環(huán)境,因為PVT波動會影響集成電路的性能、穩(wěn)定性和功耗,
2、所以進行電路設(shè)計時必須考慮PVT波動。自適應(yīng)電源電壓技術(shù)是一種實時電路低功耗技術(shù),它根據(jù)電路的PVT變化及時調(diào)整電源電壓,以保證性能和功耗要求。隨著SoC系統(tǒng)的廣泛使用,自適應(yīng)電源電壓技術(shù)面臨速度和功耗的挑戰(zhàn)。因此,自適應(yīng)電源電壓電路的設(shè)計必須綜合考慮系統(tǒng)的功能、性能和功耗要求。
本文的主要工作是在深入研究晶體管的漏電機制和PVT波動來源的基礎(chǔ)上,采用自適應(yīng)電源電壓技術(shù),使用SMIC130nm工藝,設(shè)計出一種快速的、抗PVT波
3、動的自適應(yīng)電源電壓調(diào)整電路。該自適應(yīng)電源電壓調(diào)整電路總的靜態(tài)功耗為53.85uW,并能根據(jù)工藝溫度變化,迅速調(diào)整芯片的待機電源電壓,調(diào)整時間不超過30ns。將自適應(yīng)電源電壓調(diào)整技術(shù)應(yīng)用于ISCAS’85系列的Benchmark電路,通過HSPICE仿真表明,應(yīng)用這項技術(shù),不同溫度工藝條件下電路的漏電功耗都顯著減小,最大減小幅度為96.2%;電路規(guī)模越大,漏電功耗降低幅度越大。本文提出的自適應(yīng)電源電壓調(diào)整技術(shù)能夠在很大程度上降低電路待機時
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