l-f噪聲的分析與補償.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、l/f噪聲在很大程度上是由器件中的雜質(zhì)和缺陷引起的,它們制約了半導(dǎo)體器件在低頻工作時的性能.理論上可以通過改進(jìn)制造工藝來抑制.但是,受到成本、現(xiàn)有制造水平等實際條件的限制,現(xiàn)在無法從制造工藝的角度對l/f噪聲進(jìn)行根本性的抑制.因此,從信號處理角度對l/f噪聲進(jìn)行分析和補償,是一種實用經(jīng)濟(jì)的方案.該文首先利用多種方法驗證l/f噪聲的混沌性,其中包括計算l/f噪聲的Lyapunov指數(shù),重構(gòu)l/f噪聲的相空間以觀察是否具有混沌吸引子,這些結(jié)

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