射頻吸波材料電磁特性測試技術的研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、射頻吸波材料在電磁兼容等技術領域都有著越來越廣泛應用,其電磁特性的測試是一項極其重要的課題。反射率直接表征吸波材料的吸波性能,而復介電常數(shù)和復磁導率是吸波材料最基本的電磁參數(shù),其決定了吸波材料的吸波性能。本課題主要研究反射率、復介電常數(shù)和復磁導率的測試技術。
  低頻同軸法是測量吸波材料反射率的一種基本方法,并可以應用到復介電常數(shù)和復磁導率的測量之中。本課題基于低頻同軸測試裝置,提出了單端口三短路法來校準計算測試裝置本身的散射參數(shù)

2、,以消除由于裝置結(jié)構(gòu)上不連續(xù)性而造成的多次反射的影響,用以計算吸波材料的反射率,并將計算結(jié)果與時域門法測試結(jié)果進行了對比。對多種不同的鐵氧體試樣的反射率測量結(jié)果表明,單端口三短路法測試結(jié)果與應用時域門技術的測試結(jié)果是一致的,單端口三短路法在30MHz-400MHz頻率范圍內(nèi)的測試結(jié)果是可信的。同時基于三短路法出發(fā),應用三狀態(tài)法求解大矩形同軸裝置的散射參數(shù),進而用于測試材料反射率,解決了時域門技術限制了大矩形同軸裝置在低頻段的應用的問題,

3、提高了裝置在100MHz以下測試結(jié)果的準確性。本文還根據(jù)傳輸反射法基本原理和NRW算法,提出了利用低頻同軸測試裝置進行單端口開路短路反射法測試,利用分別在開路和短路狀態(tài)下進行兩次反射系數(shù)的測量,計算獲得試樣的散射參數(shù),最后求解得到試樣的復介電常數(shù)和復磁導率。
  拱形法是IEEE STD1128-1998標準中推薦的吸波材料反射率的一種基本測試方法,該方法可以測量電磁波不同極化和入射角度情況下的吸波材料的反射率。本課題中暗室中利用

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